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        意法半導體推出內置機器學習內核的高精度測斜儀

        作者:時間:2020-08-26來源:電子產品世界收藏

        意法半導體的IIS2ICLX是一款高精度、低功耗的雙軸數字測斜儀,用于工業自動化和結構健康監測[1]等應用,具有可設置的機器學習內核和16個獨立的可設置有限狀態機,有助于邊緣設備節能省電,減少向云端傳輸的數據量。

        本文引用地址:http://www.germanstandard.com.cn/article/202008/417563.htm

        不僅內置先進的嵌入式功能,IIS2ICLX還能夠降低系統功耗,延長電池供電節點的續航時間。該傳感器固有特性可簡化與高性能產品的集成,同時最大程度地減少傳感器校準工作量和成本。

        IIS2ICLX測斜儀采用MEMS加速度計技術,±0.5 /±1 /±2 /±3g滿量程可選,并通過I2C或SPI數字接口輸出數據。嵌入式補償單元使溫漂保持在0.075mg/°C以內,即使環境溫度發生劇烈波動,傳感器的測量精度和重復性也非常出色。15μg/√Hz的超低噪聲密度可實現高分辨率傾角監測,以及結構健康監測所需的低聲壓的低頻振動度測量。

        IIS2ICLX具有高穩定性和可重復性、高精度和高分辨率的優點,特別適合工業應用,例如天線指向監測、云臺調平、叉車和建筑機械、調平儀器、設備安裝監測、以及太陽能板安裝和光線跟蹤,以及工業4.0應用,例如,機器人和自動駕駛汽車(AGV)。

        在結構健康監測中,IIS2ICLX可以準確地測量傾斜度和振動,幫助評估人員分析高樓等高聳建筑物和橋梁或隧道等基礎設施的結構完整性。與采用早期的較昂貴的探測技術的結構健康監測傳感器相比,價格適中的電池供電的基于IIS2ICLX的MEMS傾斜傳感器能夠對更多結構進行安全監測。

        許多高精度測斜儀是單軸測量設備,而2軸IIS2ICLX加速度計卻可以檢測兩個坐標軸與水平面的傾斜角(俯仰角和翻轉角),或者將兩個坐標軸合并成單軸,測量物體與水平面單一方向的傾斜角,可重復測量精度和分辨率更高,可測量±180°范圍內的傾角。數字輸出可以節省外部數模轉換或濾波器件,簡化系統設計,降低物料清單(BOM)成本。

        為了簡化IIS2ICLX的開發設計,加快應用開發周期,意法半導體還提供了專門的傳感器校準和傾斜角實時計算軟件庫,這些軟件庫屬于STM32Cube的X-CUBE-MEMS1擴展軟件包。

        IIS2ICLX采用5mm x 5mm x 1.7mm的高性能陶瓷腔LGA封裝,工作溫度范圍-40°C至+105°C 。現在可提供樣片。該產品現已投入量產。

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        [1]   結構健康監測: 利用傳感器技術連續篩查道路、橋梁、隧道等建筑工程和基礎設施的結構健康狀況。



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